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T3E3STS-1 LIU的回波损耗测量

资料介绍
本应用笔记讨论了在线路接口单元(LIU) ― Dallas Semiconductor公司的DS3150 ― 应用中,如何测量并改进回波损耗(RL)。对回波损耗的定义、要求、测量以及改进方法进行了论述。
T3E3STS-1 LIU的回波损耗测量
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