STM 8S 应用笔记2

2014年STM32全国巡回研讨会资料
AN1181
应用笔记
静电放电敏感性测量

作者：微控制器应用部门


本应用笔记介绍了用于确定微控制器器件对 ESD 损坏的敏感性的过程。




1 参考文档

1.1 参考文档 （内部 ST 参考）
■ 0061692 “产品鉴定的可靠性测试规范”
■ SOP2614 “产品鉴定的可靠性过程”


1.2 其它参考
■ CDF-AEC-Q100-002 “人体模型 ESD 测试”
■ CDF-AEC-Q100-003 “机器模型 ESD 测试”
■ ESD 协会标准草案 DS5.3 - 1993 ESD 敏感性测试草案标准 - 充电设备模型 (CDM) 组件
测试
■ ESD 协会标准草案 DS5.3.1 - 19