首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > 一种准确地预测由泄漏电流引起的PLL基准杂散噪声之简单方法(上)

一种准确地预测由泄漏电流引起的PLL基准杂散噪声之简单方法(上)

资料介绍
  本文给出了一种简单的模型,可用来在PLL系统中准确地预测由于充电泵和/或运算放大器泄漏电流引起的基准杂散噪声的大小。知道如何预测这类噪声有助于在PLL系统设计的早期明智地选择环路参数。
……
标签:PLLVCOIC
一种准确地预测由泄漏电流引起的PLL基准杂散噪声之简单方法(上)
本地下载

评论