利用防闩锁型ADG5408 81多路复用器实现鲁棒的电池监控解决方案

在汽车、军事、过程或工业应用等环境中使用的集成电路可能暴露于超过额定工作限制的条件。在电池监控系统中，可能出现故障条件，并且过压可能施加于这些IC。瞬变过压条件甚至可能使传统的CMOS开关经历闩锁条件。闩锁是一种在故障条件消除之后仍可能持续存在的不良高电流状态，它可能导致器件故障。
利用防闩锁型ADG5408 8:1多路复用
器实现鲁棒的电池监控解决方案
作者：Sean Brown


在汽车、军事、过程或工业应用等环境中使用的集成电路可能暴 流器 (SCR) 电路。过压条件可能触发此 SCR ，导致电流被显著放
露于超过额定工作限制的条件。在电池监控系统中，可能出现故 大，进而引起闩锁。
障条件，并且过压可能施加于这些IC。瞬变过压条件甚至可能使
如果输入或输出引脚电压之一超过供电轨一个二极管压降以上，
传统的 CMOS开关经历闩锁条件。闩锁是一种在故障条件消除之
或者电源时序控制不当，则可发生闩锁。如果通道上出现故障，
后仍可能持续存在的不良高电流状态，它可能导致器件故障。
且信号超过最大额定值，则故障可触发典型 CMOS器件的闩锁状
通过结隔离技术，PMOS和NMOS晶体管的N和P井形成寄生硅控整 态。



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