AOS新產品

AOS新產品(AOD448)比較報告
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■ 測試名稱: IPD60N03，IPD04N03 ，AOD436，AOD448，AOD452 Thermal test
& WAREFORM.
■ 測試日期: 2005/01/18
■ 測試地點:宇詮科技電力電子實驗室
■ 測試目的: 本實驗為使用同一組PWM IC.在實驗中更換High Side 及 Low
side 的MOSFET以找出最佳的組合,
■ 測試條件: MOTHERBOARD：FIC P4 LGA-775 MOTHERBOARD;
此主機板為上一下二的組態，共4相；以下實驗
為僅更換其中一相。
PWM：Controler: ISL6556BC. Driver: INTERSIL HIP6602 X
2. (一組PWM控制二相)。
■ 測試項目:
1. 06N03 (HS) + 04N03 (LS)
2. AOS AOD436 (HS) + AOD436 (LS).
3. AOS AOD452 (HS) + AOD448 (LS).
4. AOS AOD452 (HS) + AOD436 (LS).
■ 規格比較表：
● MOSFET
|Brand |Part number |Package |Description |


LOAD |HS |L