资料介绍
S 參數络
Agilent E5071B 络 测试 础 识<1-1>
0
1 络 络 测
ENA
络
传
RF a. Return loss b. SWR(驻 ) c. S 数 d. RF 传 a. Issertion loss b. Gain c. Phase d. Group delay 项
连 终应 连 测试 对静 终应将测试 内导 进 连结时 请 紧 过 连 转 测试 进 终 检 导 对静 垫 测试
终连
进 辅
图
1
1
:
彦
络
Agilent E5071B 络 测试 础 识<1-2>
0
1 频 ,RF 过 2 测试 a. b. 3 a. b. 传 频 传 传 稳 现 传
ENA
传 将 标 稳 传 现
时 图
将
R B
A
项
导 连 对静 终应 连 测试 对静 终应将测试 内导 进 连结时 请 紧 过 连 转 检 测试 进 终 垫 测试
D
进 辅
终连
RF 图
2
1
:
彦
络
Agilent E5071B 络 测试 础 识<1-3>
0
传 线 Z0=ZL 传 线 传 线 开 驻 线终 现
ENA
传
负载 传 过 当 穷 负载
a.
线 现 Z0:传 线 ZL:传 线终 负载 Z0
Zs=Z0
传
b.
ZL 开 传 传 终 线 线终 线 项
连 终应 连 测试 对静 终应将测试 内导 进 连结时 请 紧 过 连 转 测试 进 终 检 导 对静 垫 测试
ZL
c.
传 传 负载 驻
Vinc
Vref=?
终连 进 辅
图
3
1
:
彦
络
Agilent E5071B 络 测试 础 识<1-4>
0
S 数 S 数 图 Reflected S11= Incident Tran
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