两个关于ESD的PDF文件

2004微电子学－SCR器件在CMOS静电保护电路中的应用第 34 卷第 1 期
2004年 2 月

微 电 子 学
M icroelect ron ics

V o l134, № 1 Feb 12004

文章编号: 100423365 ( 2004) 0120067204

SCR 器件在 CMO S 静电保护电路中的应用
金　鹏, 张生才, 李树荣, 赵毅强, 姚素英
( 天津大学　电子与信息工程学院, 天津　300072)

　 摘　要: 　静电放电 ( ESD ) 对 CM O S 电路的可靠性构成了很大威胁。 随着 CM O S 电路集成度的不 断提高, 其对 ESD 保护的要求也更加严格。 针对近年来 SCR 器件更加广泛地被采用到 CM O S 静电 保护电路中的情况, 文章总结了 SCR 保护电路发展过程中各种电路的工作机理。 旨在为集成电路 设计人员提供 ESD 保护方面的设计思路以及努力方向。 关键词: 　静电保护; 集成电路; 可靠性; 可控硅 中图分类号: 　TN 47 　 文献标识码: 　A

SCR D ev ices i n ESD Protection C ircu its for CMOS I C’ s
JI N Peng, ZHAN G Sheng 2cai, L I Shu 2rong, ZHAO Y i2qiang, YAO Su 2ying
(S chool of E lectronics and Inf orm ation E ng ineering , T ianj in U niversity , T ianj in 300072, P 1 R 1 C h ina)

　
Abstract: 　 E lectro static d ischarge is con sidered a seriou s th reat to CM O S IC’ s1W ith the scali