资料介绍
相位噪声及其测试技术理 论 与 研 究 Theory and Research
16 一．引言
现代电子系统和设备都离不开相 位噪声测试的要求，因为本振相位噪 声影响着调频、调相系统的最终信噪 比， 恶化某些调幅检波器的性能 ； 限制 频移键控 （ＦＳＫ） 和相移键控 （ＰＳＫ） 的 最小误码率；影响频分多址接收系统 的最大噪声功率等。在很多高级电子 系统和设备中，核心技术中往往有一 个低相位噪声频率源。可见对相位噪 声进行表征、测试以及如何减小相位 噪声是现代电子系统中一个回避不了 的问题。本文较详细的阐述了相位噪 声的概念及其表征，并在分析其通用 的测试技术的同时提出了一种新的测 试方法――基于带通采样的中频频谱 分析法。 在研究相位噪声的测量时，由于 考虑振荡器的幅度噪声调制功率远小 于相位噪声调制功率， 所以 ， 在如下关系 ，
测
试
技
术
卷
Test Technology
相 位 噪 声 及 其 测 试 技 术
Phase Noise and It's Measurement Techniques
陈国龙
（电子科技大学 电子工程学院 四川成都 ６１００５４）
Chen Guo-long
(College of Electr onic Engineering, UE ST of China, Chengdu 610054,China)
摘 要： 本文简要阐述了相位噪声的概念及其表征， 并对相位噪声和相位噪声测试方法进行了分析， 并在 此基础上提出了一种新的相位噪声测试方法――基于带通采样的中频频谱分析法。 关键词： 相位噪声； 鉴相法； 鉴频法； 相噪测试； 中频频谱分析法 中图分类号： ＴＮ９５ 文献标识码： Ａ 文章编号：１００３－０１０７ （２００５） ０２－００１６－０２
Abstract: T his paper mainly
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