首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 消费类电子 > 晶体管烧毁机理的研究:I.直流烧毁

晶体管烧毁机理的研究:I.直流烧毁

资料介绍
晶体管烧毁机理的研究:If  

一 , ,  
真 空 与 低 温  va c u u   m & Cr y o g e n i c s  


第1 3 卷 第 8期  1 9 9 4  ̄ 9月 

缎 

邵 一   . :  

象  
刊 3 醛 l  

S AM ., E  

微 波G a A s 功 率 场 效 应 晶 体 管 烧 毁 
机 理 的研 究 : I . 直流 烧毁 
查至垂  苎 圭塑  
  .

(兰 州物 理 研 究竹 )  

I   n v e s t   i g a t   i o n  o f   b u r n o u t   me c h a n   i s m i n  
m  i c r o wa v e   Ga As   p o w e r   FET s :  

P a r t  I .D. C. b u r n o u t  
Y u a n   Ze l i a n g   Fa n  Ch u i z h e n  

( L a n z h o u   i n s k ;  ̄ u t e   o F   P h y s i c s )  
A bs   L r act   Mi   c 1 " Ow aye  G aA 。 P0W e   r  FE T  C   hi P   f ab   r  c   at e d   by  u   s   W hi c h  

aPpe ar  D ・ C ・ bu   r nout   du   r i   ng  t he  t e   s t i   ng   r e  i ave   s t j gat ed  bY  m e ans  of  5 C Bnn―  

j  g  e l e ct f on  m j   c T OS C 0PY (SEM ) and  A
标签:晶体管烧毁机理的研究
晶体管烧毁机理的研究:I.直流烧毁
本地下载

评论