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射频电路测试原理

资料介绍
12-典型射频芯片测试介绍与射频电路测试原理
第十二讲 典型射频芯片测试介绍与 测量仪器的程控(GPIB)
leiyh@mail.tsinghua.edu.cn

参考文献










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参考:王子宇译,《射频电路设计--理论与应用》,电子工业出 版社,2002 参考:张之超等译,《无线通信设备与系统设计大全》,人民邮 电出版社, 2004 84000 Product Overview_5965-5272E.pdf RF_TestOfWLAN_china.pdf 典型射频芯片举例:MAX2644(LNA)、MAX2247(PA) 、MAX9996 (Downconversion Mixer)、MAX2660-MAX2673(Upconverters Mixer)、MAX2750-MAX2752(VCO)、MAX2452(I/Q Modulator) ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Measurement Automation_59885591EN.pdf ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Data Sheet_59662720E.pdf ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Agilent VISA User’s Guide_5188-5722.pdf ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Agilent SICL User’s Guide for Windows_E2094-90038.pdf

内容
12.1 射频集成电路测试基本问题 12.2 滤波器主要技术指标及其测试方案 12.3 低噪声放大器主要技术指标及其测试方案 12.4 功率放大器主要技术指标及其测试方案 12.5 振荡器主要技术指标及其测试方案 12.6 混频器主要技术指标及其测试方案 12.7 调制解调器主要技术指标及其测试方案 12.8 电子测量自动化 12……
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