CPLD在多芯电缆测试仪中的应用

CPLD在多芯电缆测试仪中的应用学 术 论 坛

Ｃ Ｐ Ｌ Ｄ在多芯电缆测试仪中的应用
孙玉胜 马平 邹玉炜 （ 郑州轻工业学院电气信息工程学院 河南郑州

４ ５ ０ ０ ０ ２ ）

摘 要： 本丈 介奴 基于Ａ Ｌ Ｔ Ｅ Ｒ Ａ 会司 的Ｍ Ａ Ｘ ７ ０ ０ ０ ｓ 不 列Ｃ Ｐ Ｌ Ｄ 芯片 设计出５ ２ 路１ ０口 扩 辰及 逻样 粉出 撞创 的 方 案， 用 于多 芯电 优级 检侧 仪 中。 详细用 述５ １ 单片 机与Ｃ Ｐ Ｌ Ｄ的 硬软件接口， 实 珑了 单片 机１ ０口 扩 展的 一种方法。１
关键词： Ｃ Ｐ Ｌ Ｄ 单片 机

中图分类号： Ｔ Ｍ ２ ４ ‘

辛 行

１ ０口扩展

文献 标识码： Ａ

文章编号： １ ６ ７ ４ － ０ ９ ８ Ｘ （ ２ ０ ０ ８ ） ０ ２ （ ｃ ） － ０ １ ７ ０ － ０ ２

ｃ ａ ｓ ｅ　 （ ｊ ｓ ｑ ） Ｐ Ｌ Ｄ采用并行连接方式， 将占用较多的 　　　　 在单片机的应用中， 当 需要 扩展Ｉ Ｏ口 时， 机和Ｃ ｓ ｔ ： Ｏ口， 这将对系 统以后的开发将会造成较大的 ｂ ｅ ｇ ｉ ｎ 通常采取的方法是通过Ｉ Ｏ口 扩展芯片来实 Ｉ 困难。为了 节约单片机的１ ０口 资源， 该系统 山ｔ ｏ ［ ０ ｊ ＜ ＝ ｄ ａ ｔ ａ ｉ ｎ ， 现。当需要扩展较多１ ０口时， 就需要很多片 Ｐ Ｌ Ｄ来实现 １ ０口扩展。采用模拟Ｐ Ｃ １ ０ 接口 芯片， 这将使整个系统的硬件电路变的 利用 Ｃ ｊ ｓ ｑ ＜ ＝ ｓ ２ ， ｅ ｎ ｄ 单片 机只需要３ 个管脚同Ｃ Ｐ Ｌ Ｄ 连 庞大， 软件编程和运行占用Ｃ Ｐ Ｕ的运行资源 总线技术， Ｐ Ｌ Ｄ输出状态的控制， 具体 较大。Ｃ Ｐ Ｌ Ｄ具有系 统可编程和丰富的１ ０口 接就可以实现对Ｃ ｂ ｅ ｇ ｉ ｎ 资源等特点， 便于进行Ｉ Ｏ口 扩展。Ｃ