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与非门电路的测试

资料介绍
与非门电路的测试


















1. 实验目的:见课本106页1
2. 实验任务:见课本106页2
3. 实验原理:见课本106—109页
4. 实验电路图(采用的TTL与非门为HD74LS00P型)
1. 平均延迟时间测试电路示意图
实验电路图:


(2) 电压传输特性的测试电路
















具体实验电路:
五、实验数据整理:
1. 平均延迟时间测试
实验中信号发生器使用TTL输出,输出频率调整为5MHz。
测量的数据如下:
| |4·tPHL(ns) |4·tPLH(ns) |tpd= (4·tPHL+ 4·tPLH)/8 (ns) |
|测量值 |28 |27 |6.875 |


示波器显示波形大致如下图:








2、电压传输特性实验数据(单位:V)

|VOH |VOL |VOFF |VON |VNH |VNL |
|3.8 |0.22 |1.76 |1.98 |0.72 |1.36 |


示波器显示图形如下:
























六、比较TTL与非门74LS00和CMOSCD4011的性能:
由于没有做 CMOS与非门的实验,故两个门的比较参考了教材得出:
1.
CMOS与非门的开关特性比TTL要好,因为CMOS与非门的电压传输曲线比TTL的电压传输特
性曲线陡,反应快。
2.一般CMOS与非门的平均延迟时间要比TTL与非门的延迟时间要长的……
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