首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 消费类电子 > 计算机系统信号完整性测试分析技术(总体概述)

计算机系统信号完整性测试分析技术(总体概述)

资料介绍
计算机系统信号完整性测试分析技术(总体概述)计算机系统

信号完整性测试分析技术

Tektronix EVDC:孙灯亮 deng.liang.sun@tektronix.com TEL:13311666265

目录
数字电路中的信号完整性设计挑战 数字电路中的信号完整性测试挑战 泰克( Tektronix)信号完整性测试分析仪器、探头和软

件简介 计算机硬件开发流程简介和信号完整性测试分析的嵌入 计算机硬件架构简介和信号完整性测试内容分析 计算机系统典型的测试专题介绍

现代电子设计的挑战
不断缩小的特 征尺寸

高速问题更加突出

信号边缘速率越来越快 片内和片外时钟速率越来越高 系统和板级SI、EMC问题更加突出 电路的集成规模越来越大 I/O数越来越多 单板互连密度不断加大 推向市场的时间不断减少 开发成本成为主要推动力 一次性设计成功的挑战

越 来越强的电路功能 (SOC)

物理实现难度加 大
越来 越强的市场竞争

设计周期缩 短

Signal Integrity 信号完整性定义
4 SI( SIGNAL INTEGRITY),即信号完整性,是近几年

发展起来的新技术。 4 SI解决的是信号传输过程中的质量问题,尤其是在高速领 域,数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现,物理实现 中数字器件开关行为的模拟效果往往成为设计成败的关键 。
Text-Book View of Digital Signals
Logic Signal +5 Volt Supply Ground
1 0 1 0 1 0

Real View of Digital Signals (analog)
Logic Signal +5 Volt Supply Ground

SI:新概念,旧方法
SI应用的是传统的传输线、电磁学等理论,以及复杂的算法 ,解决以下几个方面的问题: *反射; *串扰; *过冲、振铃、
计算机系统信号完整性测试分析技术(总体概述)
本地下载

评论