资料介绍
可靠性实验
7. 可靠性测试程序
7.1.2 温度冲击测试（Thermal Shock）
← 测试环境：低温箱：-30° C ；高温箱：+70° C
← 测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选
←
试验方法：使用高低温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置
于高温箱内持续45分钟后，在15秒内迅速移入低温箱并持续45分钟后
，再15秒内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环27次。实验结束
后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、
机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑
盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
←
试验标准：手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨
打电话。
7.1.3 跌落试验（Drop Test）
←
测试条件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（对于PDA手机,根据所属
公司质量部门的建议可调整为跌落高度为1.3m）
← 测试目的： 跌落冲击试验
←
试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。对于直握手机，进行6个
面的自由跌落实验，每个面的跌落
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