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基于多MCU的自动测试诊断系统的设计

资料介绍
基于多MCU的自动测试诊断系统的设计单片机 → Philips

基于多 MCU 的自动测试诊断系统的设计

摘要:详细介绍了基于多 P89C668 单片机的组合逻辑电路自动测试诊断系统的设计,包括硬件结构设计和软件设计。 该自动测试诊断系统采用 USB 接口实现计算机与诊断平台的通信, 其移动式结构便于在现场进行测试, 且设备成本低、 操作简单。

关键词:自动测试诊断系统 多单片机 P89C668 USB
随着 IT 产业和通信技术、电子技术、计算机技术的高速发展,大量的生产装备和产品的电子化、数字化、自动化、 智能化的程度越来越高,与之配套的电子测量设备必须适应这种形势。因此,综合测量技术、电子技术、自动化技术 和计算机技术于一体的自动测试系统发展日益完善,在一些高度电子化产品、航空航天和军用武器装备中以及工业自 动化、通信、光学、能源等诸多领域中得到了广泛应用。 一般意义的自动测试系统是指采用计算机控制,能实现自动化测试的系统。这类系统通常是在标准的测控总线或 仪器总线(CAMAC、GPIB、VXI、PXI、CAN 等)的基础上组建而成的。目前,通用串行总线(Universal SerialBus, 即 USB)以其方便的即插即用和热插拔特性及较高的传输速率,成为 PC 机领域广为应用的外设连接规范。本文介绍的 自动测试诊断系统是以五片 P89C668 单片机为核心组成故障诊断平台,采用基于 FT245BM USB 芯片的通信卡建立计 算机与测试诊断平台通信的桥梁,使其能对需要检测的组合逻辑数字电路板进行测试,并可以根据标准诊断数据库对 产生故障的电路板进行自动故障定位。目前该系统能够对多种不含有不受控制的部件如 CPU、存储元件、晶振、阻容 式单稳态等的数字电路板进行自动测试及故障诊断,可测试的电路板边缘连接器的最大引脚数为 96 个。 1 硬件结构 该测试诊断系统的硬件主要由以下部分组成: 计算机……
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