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相位噪声及其测试技术

资料介绍
相位噪声及其测试技术
相位噪声及其测试技术
Phase Noise and It's measurement techniques | |
|电子科技大学 陈国龙 |

|摘 要:本文简要阐述了相位噪声的概念及其表征,并对相位噪声和相位噪声测试方法进行了分析, |
|并在此基础上提出了一种新的相位噪声测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。 |
|关键词:相位噪声;鉴相法;鉴频法;相噪测试;中频频谱分析法 |

|一、引言 |
|--- |
|现代电子系统和设备都离不开相位噪声测试的要求,因为本振相位噪声影响着调频、调相系统的最终|
|信噪比,恶化某些调幅检波器的性能;限制频移键控(FSK)和相移键控(PSK)的最小误码率;影响|
|频分多址接收系统的最大噪声功率等。在很多高级电子系统和设备中,核心技术中往往有一个低相位|
|噪声频率源。可见对相位噪声进行表征、测试以及如何减小相位噪声是现代电子系统中一个回避不了|
|的问题。本文较详细的阐述了相位噪声的概念及其表征,并在分析其通用的测试技术的同时提出了一|
|种新的测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。 |
|二、相位
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