基于JTAG技术的嵌入式交叉调试软件

基于JTAG技术的嵌入式交叉调试软件第 26 卷 第 10 期 Vol. 26 No. 10

计算机工程与设计
Computer Engineering and Design

2005 年 10 月 Oct. 2005

基于 JTAG 技术的嵌入式交叉调试软件
阳富民， 柯 滔， 涂 刚
( 华中科技大学 计算机学院，湖北 武汉 430074)
摘 要 ：介绍了 JTAG 交 叉调试技 术及 Xscale 芯片的增 强调试功 能，并在 此基础上 给出一种 嵌入式交 叉调试软 件系统 的设计 及实现。 主机端环 境为 LINUX 操 作系统， 并利用 GDB 调试 软件，目 标系统采 用 Xscale 芯片。 该系统的 特点是 纯软件 实现，廉 价方便。 关键词 ：JTAG; 嵌入 式系统 ; 交叉调 试 文章编 号： 1000-7024 ( 2005) 10-2817-03 中图法 分类号： TP319 文 献标识码 ： A

Embedded cross debugging software based on JTAG
YANG Fu-min, KE Tao, TU Gang
(School of Computer Science, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China )
Abstract：The cross debugging technology was introduced with JTAG and the debugging functions of Xscale was emhanced. The design and implementation technology of an embedded cross debugging software system was provided in