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基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统

资料介绍
基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统
A Cell Phone Hinge Test System Based on Virtual Instrument Technology
(上海聚星仪器有限公司, 上海 200437) 徐达1 周毅 摘要: 本文介绍一种手机翻盖耐久性测试系统。该系统由 National Instruments 公司的 PXI-8186 控制器、 PXI-7344 、 UMI-7764 、 YASKAWA 公司的 SGDL-04AS 伺服单元和 SGML-04AF12 伺服电机以及基于虚拟仪器的用户界面组成。该测试系统使用虚拟仪器使系 统规模最小化,提高系统的稳定性且易于维护和扩展,操作界面友好。 关键词:虚拟仪器;测试系统;伺服单元;伺服电机 Abstract: A cell phone hinge test system is provided. This system is composed of NI PXI-8186 Controller, NI PXI-7344 Motion Controller, UMI-7764, YASKAWA SGDL-04AS Servo Pack, YASKAWA SGML-04AF12 Servo Motor and user interface based on virtual instrument technology (Labview). Virtual instrument technology minimizes the system and enhances stability. The system also has a friendly user interface and is easy to be upgraded. Key words: Virtual Instrument; Mea
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