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手机按键公差标准

资料介绍
按键公差标准

To:各按键协作厂商
CC:研发各相关人员、刘经理、陈经理、黄总监
From:研发按键课
RE:按键控制公差标准
因近期按键量产过程中尺寸不稳定,部分波动过大,导致我司生产出现诸多问题,考虑
按键工艺的特殊性和重要性,为加强对按键的有效控制,达到我司和协作厂商的双赢效
果,经我司一致决定,对以后新项目按键尺寸特做如下控制规定:
1.硅胶尺寸公差:
1).硅胶长宽、导电基中心距、定位孔中心距公差为:
a.硅胶尺寸0mm到30mm的公差为:+/-0.10mm;
b.硅胶尺寸30mm以上的公差为:+/-0.15mm;
2).硅胶高度方向的公差为:+0.02/-0.08mm;
2.键帽尺寸公差:
1).键帽的key形长宽、台阶外形长宽公差为:+0/-0.10mm;
2).键帽台阶厚度公差为:+0/-0.10mm;
3).键帽总高公差为:+0.02/-0.08mm;
4).键帽其他公差均为:+/-0.05mm。
3.成品(键帽和硅胶装配合格的产品)尺寸公差: 成品的总键高公差为+0.05/-
0.10mm;
4.粘贴位置控制公差(以理论位置为准),偏差标准: +/-0.03mm;
5.粘贴胶水厚度我司3D图档中将统一放0.05mm的间隙;
6.其他未指示尺寸公差统一按 +/-0.10mm。
以上公差为成品的尺寸公差要求,请各协作厂商在开模和量产中加以严格控制执行,
对于超出标准的我司依具体情况将给予严格处理。
谢谢你们的鼎力支持,合作愉快。
研发:冷军平 2004.12.08
按键检讨事项

1. 结构检讨(尺寸、外形、间隙、装配干涉……
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